两箱式冷热冲击试验
一、产品概况本系列冷热冲击试验机主要用于测试材料对极高温或极低温的抵抗力，这种情况类似于不连续地处于高温或低温中的情形，冷热冲击试验能使各种物品在短的时间内完成测试。热震中产生的变化或物理伤害是热胀冷缩改变或其它物理性值的改变而引起的，采用PID 系统，各类产品才能获得完全之信赖。热震的效果包括成品裂开或破层 及位移等所引起的电化学变化，PID系统的全数字元自动控制，将使您操作简易。 一、冷热冲击试验机用途：冷热冲击试验机广泛用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC 到重机械的组件，可作为其产品改 进的依据或参考、
二、产品满足试验条件及执行标准5.1GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009 温度冲击试验 5.2 GJB360B-2009温度冲击试验 5.3 JESD22A106B-2004 温度冲击试验
三、设备主要技术参数4.1温度范围 高温区温度范围：RT+10～170℃低温区温度范围：-10～-55℃ 测试区温度范围：-40～150℃ 4.2 温度冲击范围高温 :RT+10℃～ 150℃ 低温: -10℃ ～-40℃ 4.3 测试条件高温RT+10℃～ 150℃，测试时间 30min～99h 可任意调节 低温 -10℃ ～-40℃，测试时间 30min～99h 可任意调节 4.4 控制精度温度分辨率：0.1℃温度偏差：±2℃温度波动度：±0.5℃注：温度均匀度及偏差在环境温度为+25℃，相对湿度≤85％R.H、无试样条件下测得的数值。4.5低温室降温时间 +20---55℃≤50min 4.6高温室升温时间 +20--+170℃≤40min 4.7温度冲击及恢复时 间冲击转换时间 10S内 测试区温度恢复时间:≤5min（温度恢复测温点：提篮进风口） 4.8 化霜循环可实现设定自动化霜4.9化霜时间 化霜时间≤2h
