原理
X射线衍射分析（X-ray diffraction，简称XRD），是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原
子在空间分布状况的结构分析方法。
仪器技术参数
小角衍射Zui小角可以达到0.4度，主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射：Zui低角度可以
达到5度，可以接收到小于10度的衍射峰。
（1）测量精度：角度重现性±0.0001°；测角仪半径≥200mm，测角圆直径可连续变
（2）Zui小步长0.0001°；角度范围（2θ）：-110～168°；温度范围：室温～900℃；
（3）Zui大输出：3KW；稳定性：±0.01%；管电压：20～60kV(1kV/1step)；管电流：10～60mA。
送样要求
固体粉末：均匀干燥，粒度小于70um（过200目），质量不少于100 mg；
块体、金属及薄膜样品：需加工出一平整的表面，尺寸约为20mm×10mm×2mm
应用领域
物相分析，可以对物质的组成及物相进行表征分析.
定性、定量分析，通过精修可对物质的各组分进行的定量分析。
高温原位分析，通过高温原位可以研究温度对物质晶型转变的影响。
常见适用标准
通用标准和非通用标准都适用。
